Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) JEOL JSM-5600 fabricado en Japón. Equipo de laboratorio para análisis de superficies y caracterización de materiales. Equipado con detector EDS Oxford Instruments modelo 6587 (ATW2), resolución declarada de 138 eV a 5,9 keV, sistema de análisis elemental por rayos X, cámara de muestras inclinable y sistema de vacío. Incluye columna electrónica, mesa anti vibratoria, detector EDS Oxford Instruments y componentes visibles en las fotografías. Estado visualmente completo. Recomendable verificar funcionamiento del sistema de vacío, cañón electrónico, electrónica de control y software antes de su comercialización.